|
Каталог изданий
Анищик В.М., Понарядов В.В., Углов В.В.
Дифракционный анализ
Рассмотрены основные положения физики рентгеновских лучей, рентгенотехники, теории дифракции рентгеновских лучей и электронов. Изложены основные методы структурного анализа и его практического применения для исследования кристаллов.
Для студентов, специализирующихся в области физики и химии конденсированного состояния, металлофизики и радиационного материаловедения. Может быть полезна аспирантам, инженерам, работающим в области физических исследований и контроля свойств металлов и сплавов.
 |
ISBN
Объем, страниц
Год издания
Цена, бел. руб.
Вид издания по характеру информации
Полистать книгу (PDF)
|
978-985-06-1834-4
215
01-2011
3
Гриф Министерства образования Республики Беларусь. Учебное пособие.
|
|